Spektrometry XRF
Energo- i falowo-dyspersyjne spektrometry XRF do analizy pierwiastkowej, powłok, metali szlachetnych, RoHS i zastosowań terenowych.
Produkty w tej kategorii
EXPLORER 5000
Przenośny (ręczny) analizator stopów XRF nowej generacji — bezinwazyjna identyfikacja gatunku materiału w około sekundę, biblioteka ponad 500 gatunków stopów i parametry zbliżone do aparatów stacjonarnych.
- Ręczny i lekki; obrotowy o 270° 5-calowy ekran dotykowy HD
- Biblioteka ponad 500 gatunków stopów; identyfikacja gatunku w około 1 s
- Stale stopowe, nierdzewne i narzędziowe oraz stopy Ni, Co, Ti, Cu, Zn, W
- Bezinwazyjna weryfikacja materiałowa PMI i kontrola jakości produkcji
EDX6000C
Nowej generacji energodyspersyjny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem SDD i grafenowym oknem — analiza pierwiastkowa już od fluoru, w trybie jedno- i wielokubkowym, ze zautomatyzowanym oprogramowaniem RoHS.
- Elektrycznie chłodzony detektor SDD z wielkopowierzchniowym, ultracienkim oknem grafenowym
- Zakres pierwiastków rozszerzony do fluoru (F); granica wykrywalności do 0,2 ppm w lekkiej matrycy
- Szybkość zliczeń do 300 KCPS, przetwarzanie 4096-kanałowe
- System wielokubkowy PLC (9 / 12 / 20 pozycji) z autorotacją — analiza seryjna bez nadzoru
SMART 100 PLUS
Stacjonarny tester metali szlachetnych XRF z detektorem FAST-SDD — wynik w 1 sekundę, ruchomy stolik 2D i tryby pomiaru punktowego, wielopunktowego i siatkowego; rozróżnia złoto 99,9% i 99,99%.
- Detektor FAST-SDD (125 eV, 25 mm²) — wynik w 1 sekundę, ponad 300 kCPS
- Rozróżnianie czystości złota 99,9% i 99,99% (krzywa dla złota wysokiej próby)
- Stolik 2D — tryby punktowy, wielopunktowy i siatkowy z podglądem
- Pomiar bardzo małych próbek — kolimator od 0,2 mm
EXPLORER 7000
Przenośny (ręczny) analizator XRF rud i próbek geologicznych — z cyfrowym przetwarzaniem wielokanałowym, wbudowanym GPS i kamerą HD do szybkiej oceny zawartości pierwiastków w terenie.
- Ręczny, lekki, wodo- i pyłoszczelny — praca w trudnym terenie
- Cyfrowy procesor wielokanałowy — niskie granice wykrywalności, parametry jak w aparacie stacjonarnym
- Wbudowany GPS — zapis współrzędnych, mapowanie złoża i wyznaczanie granic
- Obrotowy o 270° 5-calowy ekran dotykowy HD oraz Bluetooth do drukarki
EDX 5500H
Analizator EDXRF do profilowania pierwiastkowego zwiercin wiertniczych — urobku wiertniczego (mud logging) — szybkie oznaczanie składu skał i identyfikacja litologii w terenie i w laboratorium.
- Identyfikacja litologii na podstawie składu pierwiastkowego zwiercin
- Komora próżniowa i detektor FAST-SDD — bardzo niskie granice wykrywalności
- Cyfrowa technika 4096-kanałowa i lampa z ultracienkim oknem berylowym
- Konstrukcja antywstrząsowa — pomiary mobilne (wersja samochodowa) i laboratoryjne
EXPLORER 9000
Przenośny (ręczny) analizator XRF metali ciężkich w glebie — pomiar in situ zanieczyszczeń (Hg, Cd, Pb, As, Cu, Zn, Ni i innych) z GPS do mapowania i wsparcia rekultywacji.
- Oznaczanie metali ciężkich w glebie: Hg, Cd, Pb, As, Cu, Zn, Ni, Co, V, Cr, Mn
- Pomiar in situ — inwentaryzacja, reakcja kryzysowa i monitoring rekultywacji
- Wbudowany GPS — mapowanie zanieczyszczeń i wyznaczanie granic obszarów
- Ręczny, lekki, wodo- i pyłoszczelny
SEE100
Biurkowy spektrometr EDXRF do oznaczania metali ciężkich w glebie — pomiar in situ i przesiewowy 15 pierwiastków (Hg, Cd, Pb, As, Cu, Zn, Ni, Co, V i in.), z opcją podajnika i wersji samochodowej.
- Oznaczanie 15 metali ciężkich w glebie: Hg, Cd, Pb, As, Cu, Zn, Ni, Co, V
- Próbki stałe, ciekłe i sproszkowane — gleba, skały, szlaka, szlam
- Wysoka czułość i niskie granice wykrywalności (oryginalny importowany detektor)
- Opcjonalny autosampler — masowy przesiew próbek zanieczyszczonych
EXPLORER 3000
Ręczny (przenośny) analizator XRF pierwiastków szkodliwych — zaprojektowany pod RoHS, do badania elektroniki, zabawek, opakowań, baterii i dużych detali bez pobierania próbki.
- Ręczny, lekki — parametry zbliżone do aparatów biurkowych
- Cyfrowa technika wielokanałowa — niższe granice wykrywalności i wysoka stabilność
- Badanie dużych detali bezpośrednio na powierzchni, bez cięcia
- Zastosowania: RoHS, zabawki, materiały opakowaniowe, baterie
EDX 3200S PLUS C
Szybki analizator XRF metali ciężkich w żywności — nieniszczące oznaczanie kadmu, ołowiu, chromu, arsenu i selenu w zbożach, z autosamplerem i sygnalizacją wyniku w trzech kolorach.
- Oznaczanie metali ciężkich w żywności: Cd, Pb, Cr, As, Se
- Przesiew w 3 min, dokładna ilość w 10 min — bez odczynników
- Walidacja krajowa dla ryżu, pszenicy i kukurydzy (Cd, Cr, Se, Pb, As)
- Sygnalizacja wyniku w trzech kolorach (czerwony/żółty/zielony)
Thick800A
Energodyspersyjny analizator grubości powłok XRF z w pełni automatycznym, wielopunktowym pomiarem sterowanym programowo oraz precyzyjnym stolikiem pozycjonującym.
- W pełni automatyczny, wielopunktowy pomiar sterowany oprogramowaniem
- Precyzyjny stolik XY z powtarzalnością pozycjonowania poniżej 0,005 mm
- Podwójne pozycjonowanie laserowe i kolimator o średnicy 0,1 mm
- Detektor FAST-SDD zapewniający dokładne wyniki
Cube100S PLUS
Przenośny analizator XRF do szybkiego, terenowego oznaczania siarki w ropie i paliwach — zgodny z konwencją MARPOL oraz normami ISO 8217 i ISO 8754.
- Szybkie, terenowe oznaczanie zawartości siarki w paliwach
- Technika fluorescencji rentgenowskiej (XRF)
- Zgodność z konwencją MARPOL dla paliw żeglugowych
- Spełnienie norm ISO 8217 i ISO 8754
EDX3600H
Profesjonalny biurkowy spektrometr EDXRF do pełnej analizy pierwiastkowej (od sodu do uranu) z detektorem SDD — do badania stopów, metali szlachetnych, powłok, katalizatorów, geologii i RoHS.
- Detektor SDD o rozdzielczości 135–145 eV
- Zakres pomiarowy od 1 ppm do 99,99%; pierwiastki od Na do U
- Optymalizacja pomiaru pierwiastków lekkich; atmosfera powietrzna lub próżniowa (opcja)
- Wbudowana kamera CCD oraz automatyczna zmieniarka filtrów i kolimatorów
Cube 100S
Przenośny energodyspersyjny analizator XRF do szybkiego, terenowego oznaczania zawartości siarki w paliwach (olejach napędowych i bunkrowych) — zgodny z wymaganiami MARPOL i ISO 8754.
- Oznaczanie siarki w paliwie w czasie poniżej 200 s
- Zgodność z ISO 8217-2010, ISO 8754 oraz GB/T 17040-2008 (MARPOL)
- Wbudowany system Windows CE — praca w terenie bez komputera
- Masa tylko 4,8 kg; bezpieczna, zamknięta komora pomiarowa z sygnalizacją
EDX 1800B
Biurkowy energodyspersyjny spektrometr XRF w konstrukcji down-looking z detektorem Si-PIN — niezawodny do analiz RoHS, stopów, powłok i metali szlachetnych.
- Konstrukcja down-looking — pomiar próbek o różnych kształtach
- Detektor Si-PIN oraz lampa rentgenowska nowej generacji o mocy do 50 W
- Elektryczna zmiana kolimatorów i filtrów dla różnych trybów pomiaru
- Ruchomy stolik do precyzyjnego pozycjonowania punktu pomiarowego
EDX 1800E
Biurkowy spektrometr XRF (down-looking) z detektorem FAST-SDD — wykrywa do 75 pierwiastków z granicą 1 ppm, do analiz RoHS, stopów, powłok i metali szlachetnych.
- Detektor FAST-SDD; wykrywanie do 75 pierwiastków z granicą 1 ppm
- Powtarzalność i stabilność na poziomie 0,05%
- Konstrukcja down-looking, lampa do 50 W, elektryczne kolimatory i filtry
- Zabezpieczenia: samokontrola zamknięcia pokrywy i awaryjny zamek wysokiego napięcia
EDX 2000A
Automatyczny mikroobszarowy miernik grubości powłok XRF z detektorem FAST-SDD — bezkontaktowy pomiar powłok na płaskich i złożonych kształtach, dla półprzewodników, układów scalonych i PCB.
- Detektor FAST-SDD o rozdzielczości do 129 eV — analiza wielowarstwowych powłok
- Automatyczny ruch w osiach X, Y, Z i podwójne pozycjonowanie laserowe
- Konstrukcja górnoogniskowa — pomiar drobnych próbek o nietypowych kształtach
- Kamera o zmiennej ogniskowej z systemem korekcji odległości
EDX 2000H
Stacjonarny analizator XRF (EDXRF) do oznaczania składu mosiądzu i innych stopów metali — konstrukcja dolnoogniskowa z detektorem Si-PIN, z rozszerzaniem pierwiastków bez zmian sprzętowych.
- Analiza składu mosiądzu oraz stopów miedzi, cynku, kobaltu i stali nierdzewnej
- Konstrukcja dolnoogniskowa — pomiar próbek o różnych kształtach
- Nowej generacji lampa i zasilacz wysokiego napięcia — wyższa wydajność
- Rozszerzanie zakresu pierwiastków i stopów bez dodawania sprzętu
EDX 3000
Stacjonarny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem Si-PIN do oznaczania metali szlachetnych — precyzyjna analiza zawartości złota, srebra, platyny, palladu, miedzi, cynku i niklu w biżuterii.
- Detektor Si-PIN — analiza Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni w wyrobach jubilerskich
- Półprzewodnikowe chłodzenie elektryczne — bez ciekłego azotu
- Wbudowana kamera HD do podglądu próbki
- Cyfrowy procesor impulsów — szybkie i dokładne przetwarzanie danych
EDX 3000B
Stacjonarny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem Si-PIN do oznaczania metali szlachetnych — dokładna analiza złota, srebra, platyny, palladu i innych metali w biżuterii.
- Detektor Si-PIN — przewyższa liczniki proporcjonalne; analiza Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni
- Trwała, stabilna lampa rentgenowska
- Półprzewodnikowe chłodzenie elektryczne — bez ciekłego azotu
- Wbudowana kamera HD do podglądu próbki
EDX 3000PLUS
Energodyspersyjny spektrometr XRF do precyzyjnego oznaczania metali szlachetnych (Au, Ag, Pt, Pd) — wielkopowierzchniowy detektor FAST-SDD 25 mm² i rozdzielczość do 125 eV.
- Detektor FAST-SDD o powierzchni 25 mm² i rozdzielczości do 125 eV
- Szybkość zliczeń do 80 000 — 5–10× więcej niż detektor Si-PIN 6 mm²
- Dokładne oznaczanie Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni w wyrobach jubilerskich
- Zgodność z normą GB/T 18043-2000
EDX 3000SE
Stacjonarny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem Si-PIN do metali szlachetnych — pionowa optyka i mały kolimator wykrywają domieszki renu (Re) i wolframu (W) w złocie.
- Detektor Si-PIN — analiza Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni w biżuterii
- Pionowa optyka i mały kolimator — wykrywanie domieszek Re i W w złocie
- Bardzo duża komora na próbki różnej wielkości
- Metoda FP — pełny pomiar jednym przyciskiem
EDX 3200S PLUS
Zintegrowany analizator XRF zawartości siarki w produktach naftowych (benzyna, olej napędowy, smary) — z układem próżniowym i wbudowanym komputerem, do laboratorium i instalacji.
- Oznaczanie siarki w paliwach i olejach; zgodność z GB252-2015, GB/T17040-2008 i ASTM D7039
- Układ próżniowy — bez helu, niższy koszt analizy
- Konstrukcja down-looking chroniąca lampę i okno detektora przy lekkich olejach
- Detektor FAST-SDD i wysokowydajna lampa boczna dużej mocy
EDX 3300S
Przenośny analizator siarki w paliwach metodą falowo-dyspersyjną (WDXRF) — granica oznaczania 0,5 mg/kg, zgodny z ASTM D7039 oraz normami paliw drogowych i żeglugowych.
- Monochromator z podwójnie zakrzywionym kryształem — selektywne wzbudzenie i niski poziom tła
- Niska granica oznaczania 0,5 mg/kg; RSD poniżej 5% przy 10 mg/kg
- Zgodność z ASTM D7039, GB252-2015 i GB17411-2015 (paliwo żeglugowe)
- Przenośny i lekki; bez próżni, bez materiałów eksploatacyjnych i przygotowania próbki
EDX 3600
Energodyspersyjny spektrometr XRF z detektorem FAST-SDD i opcjonalnym systemem próżniowym — dokładna, bezinwazyjna analiza metali szlachetnych oraz lekkich pierwiastków w jubilerstwie.
- Detektor FAST-SDD o rozdzielczości do 125 eV
- Opcjonalna komora próżniowa — analiza lekkich pierwiastków
- Oznaczanie Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Cu, Fe, Ni, Zn, Ir i innych
- Zgodność z normami GB-1887 i GB/T-18043
EDX 3800
Wszechstronny stacjonarny spektrometr EDXRF z chłodzonym elektrycznie detektorem półprzewodnikowym i wysokomocowym źródłem — do RoHS, analizy stopów, powłok i metali szlachetnych, z opcją ramienia podającego.
- Wysokowydajny detektor półprzewodnikowy z chłodzeniem elektrycznym
- Wysokomocowe źródło wzbudzenia — niższe granice oznaczania pierwiastków ciężkich (5–10×)
- Niezależny kanał chłodzenia zapewnia stabilność przy dużej mocy
- Konstrukcja typu „wszystko w jednym" i pomiar jednym przyciskiem
EDX 4500
Stacjonarny spektrometr EDXRF z detektorem FAST-SDD i inteligentnym układem próżniowym — do badania stali, pełnej analizy pierwiastkowej oraz wykrywania pierwiastków szkodliwych (RoHS, halogeny).
- Lampa rentgenowska z ultracienkim oknem o światowym poziomie parametrów
- Cyfrowa technika wielokanałowa — szybkość zliczania do 100 000 CPS
- Detektor FAST-SDD o dobrej liniowości i rozdzielczości energetycznej
- Inteligentny układ próżniowy — skuteczne wzbudzanie pierwiastków lekkich (Si, P)
EDX 4500A
Stacjonarny spektrometr EDXRF z inteligentnym układem próżniowym i opcjonalnym autosamplerem na 23 próbki — do kontroli jakości w górnictwie, metalurgii i produkcji materiałów nieorganicznych.
- Inteligentny układ próżniowy — wzbudzanie pierwiastków lekkich (Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl)
- Precyzyjna analiza pierwiastków: K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Mo, Zr, Ba
- Opcjonalne ramię na 23 próbki — wysokoprzepustowy, bezobsługowy pomiar
- Pomiar jednym przyciskiem po włożeniu próbek
EDX 4500H
Stacjonarny spektrometr EDXRF z detektorem FAST-SDD i inteligentnym układem próżniowym — szybka, nieniszcząca analiza do sterowania procesem wytopu, analizy stopów i pełnej analizy pierwiastkowej.
- Inteligentny układ próżniowy — wzbudzanie pierwiastków lekkich (Si, P, S, Al, Mg)
- Precyzyjna analiza pierwiastków o wysokiej zawartości (Cr, Ni, Mo)
- Krótki czas pomiaru — sterowanie procesem wytopu w czasie rzeczywistym
- Cyfrowa technika wielokanałowa — do 100 000 CPS
EDX 600
Energodyspersyjny spektrometr XRF do oznaczania składu metali szlachetnych — detektor proporcjonalny, kompletne oprogramowanie analityczne i prosty, ekonomiczny pomiar.
- Detektor proporcjonalny — ekonomiczne, wydajne oznaczanie metali szlachetnych
- Inteligentne oprogramowanie do analizy złota i stopów jubilerskich
- Wiele wybieralnych modeli analizy i identyfikacji
- Niezależne modele korekcji efektu matrycy
EDX 600 PLUS
Energodyspersyjny analizator grubości powłok XRF w konstrukcji górnego podawania (down-looking) — bez ciekłego azotu i bez przygotowania próbek, do kontroli powłok galwanicznych, chemicznych i ogniowych.
- Konstrukcja down-looking i pomiar jednym przyciskiem — szybkie układanie próbek
- Praca bez ciekłego azotu i bez przygotowania próbek
- Mikroogniskowe źródło i małe kolimatory (do 0,1 × 0,3 mm) do drobnych detali
- Kamera o zmiennej ogniskowej z kompensacją odległości — pomiar powierzchni nieregularnych
EDX 680
Stacjonarny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem Si-PIN do oznaczania metali szlachetnych — tester zawartości złota i innych metali z czytelnym podglądem próbki HD.
- Detektor Si-PIN i wydajne źródło wzbudzenia — kontrola składu metali szlachetnych
- Lampa: prąd 50–1000 µA, wysokie napięcie 5–50 kV
- Unikatowy układ kolimatorów i filtrów
- Cyfrowy układ wielokanałowy i system obserwacji próbki HD
EDX 6800
Stacjonarny spektrometr EDXRF z inteligentnym układem próżniowym i detektorem FAST-SDD — szybka, dokładna i nieniszcząca analiza rud, stopów oraz pełna analiza pierwiastkowa.
- Inteligentny układ próżniowy — wzbudzanie pierwiastków lekkich (Si, P, S, Al, Mg)
- Precyzyjna analiza pierwiastków o wysokiej zawartości (Cr, Ni, Mo)
- Lampa z ultracienkim oknem o światowym poziomie parametrów
- Najnowsza technika cyfrowa wielokanałowa — do 100 000 CPS
EDX 8000L
Spektrometr XRF do badań archeologicznych — bezinwazyjna analiza składu oraz wsparcie datowania i ustalania pochodzenia ceramiki, brązów i wyrobów z metali szlachetnych, z dużą komorą próżniową.
- Jednoczesne oznaczanie składu masy i szkliwa dawnej ceramiki (Na2O, MgO, Al2O3, CaO, Fe2O3, K2O i in.)
- Wsparcie datowania i ustalania pochodzenia przez porównanie z bazą danych ceramiki
- Analiza brązów (Cu, Sn, Pb, Zn) i metali szlachetnych (Au, Pt, Ag, Pd i in.)
- Bardzo duża komora próżniowa na obiekty różnej wielkości i kształtu
EDX-PCB
Górnonaświetlany analizator XRF grubości powłok o bardzo dużym skoku roboczym — do pomiaru dużych płyt PCB, obudów i wafli, z systemem wprowadzania rysunków i obrazów.
- Bardzo duży skok roboczy do dużych próbek
- Pomiar dużych płyt PCB, obudów i wafli
- System wprowadzania rysunków i obrazów zewnętrznych
- Kamera mikroobszarowa do szybkiego pozycjonowania punktów
EDX-T30
Górnonaświetlany analizator XRF do pomiaru grubości powłok — z wbudowanym wielokolimatorem, automatyczną zmianą filtrów, dwiema kamerami i automatycznym ruchem 3D w osiach X/Y/Z.
- Górnonaświetlana konstrukcja do pomiaru grubości powłok
- Wbudowany wielokolimator i automatyczna zmiana filtrów
- Dwie kamery — detale oraz szerokie pole widzenia HD
- Automatyczny ruch 3D w osiach X/Y/Z
EDX-V
Analizator XRF grubości powłok i składu z układem optyki polikapilarnej — do wydajnego, dokładnego pomiaru mikroobszarów elementów elektronicznych, wyprowadzeń układów i wafli.
- Pomiar grubości powłok oraz analiza składu
- Polikapilarny układ optyki rentgenowskiej
- Pomiar mikroobszarów o rozmiarach mikrometrowych
- Elementy elektroniczne, wyprowadzenia układów i wafle
EDX1800B (Smart)
Energodyspersyjny spektrometr XRF (EDXRF) — odświeżona, „inteligentna" wersja sprawdzonego EDX1800B z krajowymi podzespołami rdzeniowymi i lepszą relacją jakości do ceny.
- Sprawdzona platforma EDX1800B w odświeżonej wersji
- Wysokiej jakości krajowe podzespoły rdzeniowe
- Detektor nowej generacji
- Utrzymana wysoka wydajność przy lepszej relacji jakości do ceny
EDX1800BS
Energodyspersyjny spektrometr XRF (EDXRF) — wersja EDX1800BS z nowym zasilaczem wysokiego napięcia i lampą rentgenowską dla wyższej niezawodności i wydajności pomiaru.
- Nowej generacji zasilacz wysokiego napięcia i lampa rentgenowska
- Wyższa niezawodność i podniesiony poziom ochrony
- Większa moc lampy poprawiająca wydajność pomiaru
- Szybka kontrola odpadów stałych
EDX600Pro
Dolnoogniskowy miernik grubości powłok XRF — szybki pomiar składu i grubości powłok galwanicznych, chemicznych i ogniowych oraz stężenia jonów metali w kąpieli, bez ciekłego azotu i przygotowania próbki.
- Konstrukcja dolnoogniskowa — szybki pomiar bez przygotowania próbki i ciekłego azotu
- Wysokomocowe źródło i lampa o mikroognisku — stabilny sygnał
- Bardzo małe kolimatory (od 0,1 × 0,3 mm) — pomiar drobnych elementów
- Dokładna analiza wielowarstwowych i złożonych powłok stopowych
EDXThick800
Górnonaświetlany, wielofunkcyjny analizator XRF do automatycznego pomiaru grubości powłok w mikroobszarach — z detekcją pierwiastków szkodliwych i analizą lekkich pierwiastków.
- Automatyczny pomiar grubości powłok w mikroobszarach
- Wielofunkcyjność — także detekcja pierwiastków szkodliwych
- Analiza składu lekkich pierwiastków
- Trójwymiarowy system ruchu w osiach X/Y/Z
Legend 2000
Analizator XRF metali szlachetnych zgodny z normą GB/T18043-2013 — z detektorem FAST-SDD i pionowym torem optycznym, wykrywa także domieszki renu i wolframu w złocie.
- Detektor FAST-SDD; oznaczanie Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni
- Pionowy tor optyczny i mały kolimator — wykrywanie domieszek Re i W w złocie (alarm Re/W)
- Ruchomy stolik i kamera HD z zoomem — precyzyjne pozycjonowanie i zdjęcia w raporcie
- Duża komora pomiarowa na próbki różnej wielkości