EDX 1800E
Biurkowy spektrometr XRF (down-looking) z detektorem FAST-SDD — wykrywa do 75 pierwiastków z granicą 1 ppm, do analiz RoHS, stopów, powłok i metali szlachetnych.
- Detektor FAST-SDD; wykrywanie do 75 pierwiastków z granicą 1 ppm
- Powtarzalność i stabilność na poziomie 0,05%
- Konstrukcja down-looking, lampa do 50 W, elektryczne kolimatory i filtry
- Zabezpieczenia: samokontrola zamknięcia pokrywy i awaryjny zamek wysokiego napięcia
- Zastosowania: RoHS, stopy, grubość powłok, metale szlachetne
EDX 1800E to biurkowy energodyspersyjny spektrometr XRF rozwinięty z serii EDX 1800, z naciskiem na wydajność i bezpieczeństwo. Detektor FAST-SDD oraz nowej generacji lampa rentgenowska o mocy do 50 W zapewniają stabilną i szybką pracę, pozwalając wykrywać do 75 pierwiastków z granicą oznaczania na poziomie 1 ppm.
Zastosowania
- Analizy RoHS i pokrewne dyrektywy
- Geologia oraz skład stopów (miedź, stale nierdzewne)
- Pomiar grubości powłok galwanicznych oraz składu kąpieli
- Metale szlachetne i wyroby jubilerskie
O co zapytać
Konstrukcja down-looking oraz elektryczna zmiana kolimatorów i filtrów dopasowują pomiar do kształtu próbki. Dobre ekranowanie lampy utrzymuje poziom promieniowania na poziomie zbliżonym do tła, a samokontrola zamknięcia pokrywy i awaryjny zamek wysokiego napięcia zwiększają bezpieczeństwo. Skontaktuj się z nami, aby dobrać konfigurację do Twojej aplikacji.
Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.
Karta katalogowa (PDF) — w przygotowaniu