Zastosowania aparatury Skyray
Dobór urządzeń według branży, próbki i wymaganej informacji analitycznej — z myślą o wymaganiach polskiego i europejskiego rynku.
Jako polski przedstawiciel Skyray Instrument dobieramy aparaturę do konkretnego zastosowania — od kontroli zgodności RoHS i REACH, przez analizę metali i powłok, po monitoring środowiska. Poniżej zebraliśmy najczęstsze branże i metody; w każdej wskazujemy techniki i przykładowe urządzenia, które warto rozważyć.
RoHS i substancje ograniczone
Kontrola materiałów i komponentów (XRF) oraz oznaczanie ftalanów metodą pirolityczną (GC).
Grubość powłok
Analiza powłok galwanicznych i warstw funkcjonalnych metodami XRF.
Metale szlachetne
Badanie złota, srebra i stopów jubilerskich metodami XRF oraz iskrowymi OES.
Metale i stopy
Identyfikacja materiałów i kontrola składu stopów w laboratorium (OES, WDX) lub w terenie (XRF, LIBS).
Analiza śladowa i superśladowa
Oznaczanie pierwiastków na poziomie ppm–ppt technikami ICP-OES, ICP-MS i AAS.
Związki organiczne i pozostałości
Identyfikacja i oznaczanie związków oraz pozostałości metodami GC, GC-MS i LC-MS.
Petrochemia i siarka
Analiza paliw, olejów i próbek petrochemicznych (XRF, WDX, ICP-OES).
Środowisko i żywność
Badania metali ciężkich, zanieczyszczeń i bezpieczeństwa żywności (XRF, ICP, AAS, GC-MS).
RoHS, REACH i elektronika
Producenci i importerzy wyrobów elektrycznych i elektronicznych na rynek Unii Europejskiej muszą wykazać zgodność z dyrektywą RoHS oraz rozporządzeniem REACH. Energodyspersyjne spektrometry XRF umożliwiają szybki przesiew metali ograniczonych (Pb, Cd, Hg, Cr, Br) bezpośrednio na komponentach, a do oznaczania ftalanów stosuje się metodę pirolityczną w chromatografii gazowej. To podstawa kontroli przyjęcia materiału i nadzoru produkcji w przemyśle elektronicznym.
Grubość powłok i galwanotechnika
W galwanotechnice, elektronice i produkcji złączy kluczowy jest pomiar grubości i składu powłok. Analizatory XRF mierzą powłoki wielowarstwowe bez niszczenia próbki — od dużych płyt PCB, przez mikroobszary wyprowadzeń układów, po detale o złożonych kształtach. Dla pełnego procesu przygotowania próbek oferujemy także akcesoria XRF: prasy do pastylek i młynki.
Metale szlachetne i jubilerstwo
Skup, rafinacja i obrót metalami szlachetnymi wymagają szybkiego i dokładnego oznaczania próby. Ręczne i biurkowe analizatory XRF oznaczają zawartość złota, srebra, platyny i palladu w kilka sekund, bez niszczenia wyrobu, a iskrowe spektrometry OES zapewniają precyzyjną kontrolę pierwiastków śladowych w złocie wysokiej próby.
Petrochemia, paliwa i siarka
Limity siarki w paliwach żeglugowych (konwencja MARPOL) i drogowych wymagają rutynowej kontroli. Przenośne analizatory XRF oznaczają siarkę w paliwie w terenie, a falowo-dyspersyjne spektrometry WDX i ICP-OES kontrolują chlor, krzem, fosfor oraz pierwiastki zużyciowe i dodatki w ropie i olejach.
Metale, stopy i recykling złomu
Identyfikacja gatunku stopu (PMI) i sortowanie złomu to codzienność hut, odlewni i punktów skupu. Ręczne analizatory XRF i LIBS rozpoznają materiał w sekundy w terenie, a laboratoryjne spektrometry iskrowe OES i WDX zapewniają pełną kontrolę składu, łącznie z analizą węgla i siarki.
Geologia, górnictwo i surowce
Poszukiwanie i kontrola jakości surowców mineralnych opiera się na szybkiej analizie pierwiastkowej. Terenowe analizatory XRF wspierają prace eksploracyjne, a laboratoryjne spektrometry WDX oraz ICP-OES i ICP-MS oznaczają zawartości od głównych składników po pierwiastki śladowe w rudach, koncentratach i materiałach budowlanych.
Środowisko, woda i żywność
Kontrola metali ciężkich w glebie, wodzie i żywności wymaga niskich granic wykrywalności. Techniki ICP-MS, ICP-OES i AAS oraz fluorescencja atomowa (AFS) oznaczają rtęć, arsen, ołów i kadm na poziomie śladowym, a analizatory środowiskowe i procesowe — w tym przenośne testery wody i analizatory VOC — wspierają monitoring terenowy i procesowy.
Baterie i nowa energia
Rozwój elektromobilności i unijne rozporządzenie bateryjne stawiają nowe wymagania kontroli surowców i materiałów aktywnych. Spektrometry ICP-OES i ICP-MS oraz XRF oznaczają lit, nikiel, kobalt, mangan i zanieczyszczenia metaliczne w prekursorach, katodach i elektrolitach, wspierając jakość i bezpieczeństwo ogniw.