Zastosowania aparatury Skyray
Dobór urządzeń według branży, próbki i wymaganej informacji analitycznej — z myślą o wymaganiach polskiego i europejskiego rynku.
Jako polski przedstawiciel Skyray Instrument dobieramy aparaturę do konkretnego zastosowania — od kontroli zgodności RoHS i REACH, przez analizę metali i powłok, po monitoring środowiska. Poniżej zebraliśmy najczęstsze branże i metody; w każdej wskazujemy techniki i przykładowe urządzenia, które warto rozważyć.
Opakowania — PPWR i 94/62/WE
Przesiew XRF ołowiu, kadmu, rtęci i chromu w opakowaniach oraz ich komponentach.
RoHS i substancje ograniczone
Kontrola materiałów i komponentów (XRF) oraz oznaczanie ftalanów metodą pirolityczną (GC).
Grubość powłok
Analiza powłok galwanicznych i warstw funkcjonalnych metodami XRF.
Metale szlachetne
Badanie złota, srebra i stopów jubilerskich metodami XRF oraz iskrowymi OES.
Metale i stopy
Identyfikacja materiałów i kontrola składu stopów w laboratorium (OES, WDX) lub w terenie (XRF, LIBS).
Analiza śladowa i superśladowa
Oznaczanie pierwiastków na poziomie ppm–ppt technikami ICP-OES, ICP-MS i AAS.
Związki organiczne i pozostałości
Identyfikacja i oznaczanie związków oraz pozostałości metodami GC, GC-MS i LC-MS.
Petrochemia i siarka
Analiza paliw, olejów i próbek petrochemicznych (XRF, WDX, ICP-OES).
Środowisko i żywność
Badania metali ciężkich, zanieczyszczeń i bezpieczeństwa żywności (XRF, ICP, AAS, GC-MS).
Metale ciężkie w opakowaniach — PPWR i 94/62/WE
RoHS dotyczy sprzętu elektrycznego i elektronicznego, nie opakowań. Od 12 sierpnia 2026 r. wymagania dla opakowań określa bezpośrednio rozporządzenie (UE) 2025/40 (PPWR), które zastąpiło dyrektywę opakowaniową 94/62/WE. PPWR utrzymuje limit: suma stężeń ołowiu (Pb), kadmu (Cd), rtęci (Hg) i chromu sześciowartościowego (Cr(VI)) w opakowaniu lub jego komponencie nie może przekraczać 100 mg/kg.
XRF pozwala szybko i bez niszczenia próbki przesiewać Pb, Cd, Hg oraz całkowity chrom w tworzywach, papierze, tekturze, szkle, metalach, powłokach i farbach drukarskich. Wynik obejmujący całkowity chrom jest konserwatywnym badaniem przesiewowym: XRF nie rozróżnia Cr(VI) od Cr(III), dlatego wynik graniczny lub przekroczenie należy potwierdzić metodą selektywną dla Cr(VI). Aparat wspiera kontrolę dostaw i produkcji, ale sam pomiar przesiewowy nie jest certyfikatem zgodności.
PPWR wprowadza także osobne limity PFAS dla opakowań przeznaczonych do kontaktu z żywnością. XRF nie identyfikuje poszczególnych PFAS i nie zastępuje wymaganych analiz celowanych. Pomiar fluoru całkowitego może być wyłącznie etapem wstępnego przesiewu.
Dobór urządzenia: EXPLORER 3000 do kontroli dostaw i dużych elementów bez pobierania próbki; EDX 1800E do rutynowej kontroli laboratoryjnej; EDX3600H do różnych matryc i postaci próbek; EDX6000C do serii pomiarowych i automatyzacji.
Analizatory XRF do kontroli opakowań
xrf
EXPLORER 3000
Ręczny (przenośny) analizator XRF pierwiastków szkodliwych — zaprojektowany pod RoHS, do badania elektroniki, zabawek, opakowań, baterii i dużych detali bez pobierania próbki.
- Ręczny, lekki — parametry zbliżone do aparatów biurkowych
- Cyfrowa technika wielokanałowa — niższe granice wykrywalności i wysoka stabilność
- Badanie dużych detali bezpośrednio na powierzchni, bez cięcia
- Zastosowania: RoHS, zabawki, materiały opakowaniowe, baterie
xrf
EDX 1800E
Biurkowy spektrometr XRF (down-looking) z detektorem FAST-SDD — wykrywa do 75 pierwiastków z granicą 1 ppm, do analiz RoHS, stopów, powłok i metali szlachetnych.
- Detektor FAST-SDD; wykrywanie do 75 pierwiastków z granicą 1 ppm
- Powtarzalność i stabilność na poziomie 0,05%
- Konstrukcja down-looking, lampa do 50 W, elektryczne kolimatory i filtry
- Zabezpieczenia: samokontrola zamknięcia pokrywy i awaryjny zamek wysokiego napięcia
xrf
EDX3600H
Profesjonalny biurkowy spektrometr EDXRF do pełnej analizy pierwiastkowej (od sodu do uranu) z detektorem SDD — do badania stopów, metali szlachetnych, powłok, katalizatorów, geologii i RoHS.
- Detektor SDD o rozdzielczości 135–145 eV
- Zakres pomiarowy od 1 ppm do 99,99%; pierwiastki od Na do U
- Optymalizacja pomiaru pierwiastków lekkich; atmosfera powietrzna lub próżniowa (opcja)
- Wbudowana kamera CCD oraz automatyczna zmieniarka filtrów i kolimatorów
xrf
EDX6000C
Nowej generacji energodyspersyjny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem SDD i grafenowym oknem — analiza pierwiastkowa już od fluoru, w trybie jedno- i wielokubkowym, ze zautomatyzowanym oprogramowaniem RoHS.
- Elektrycznie chłodzony detektor SDD z wielkopowierzchniowym, ultracienkim oknem grafenowym
- Zakres pierwiastków rozszerzony do fluoru (F); granica wykrywalności do 0,2 ppm w lekkiej matrycy
- Szybkość zliczeń do 300 KCPS, przetwarzanie 4096-kanałowe
- System wielokubkowy PLC (9 / 12 / 20 pozycji) z autorotacją — analiza seryjna bez nadzoru
RoHS, REACH i elektronika
Producenci i importerzy wyrobów elektrycznych i elektronicznych na rynek Unii Europejskiej muszą wykazać zgodność z dyrektywą RoHS oraz rozporządzeniem REACH. Energodyspersyjne spektrometry XRF umożliwiają szybki przesiew metali ograniczonych (Pb, Cd, Hg, Cr, Br) bezpośrednio na komponentach, a do oznaczania ftalanów stosuje się metodę pirolityczną w chromatografii gazowej. To podstawa kontroli przyjęcia materiału i nadzoru produkcji w przemyśle elektronicznym.
Grubość powłok i galwanotechnika
W galwanotechnice, elektronice i produkcji złączy kluczowy jest pomiar grubości i składu powłok. Analizatory XRF mierzą powłoki wielowarstwowe bez niszczenia próbki — od dużych płyt PCB, przez mikroobszary wyprowadzeń układów, po detale o złożonych kształtach. Dla pełnego procesu przygotowania próbek oferujemy także akcesoria XRF: prasy do pastylek i młynki.
Metale szlachetne i jubilerstwo
Skup, rafinacja i obrót metalami szlachetnymi wymagają szybkiego i dokładnego oznaczania próby. Ręczne i biurkowe analizatory XRF oznaczają zawartość złota, srebra, platyny i palladu w kilka sekund, bez niszczenia wyrobu, a iskrowe spektrometry OES zapewniają precyzyjną kontrolę pierwiastków śladowych w złocie wysokiej próby.
Petrochemia, paliwa i siarka
Limity siarki w paliwach żeglugowych (konwencja MARPOL) i drogowych wymagają rutynowej kontroli. Przenośne analizatory XRF oznaczają siarkę w paliwie w terenie, a falowo-dyspersyjne spektrometry WDX i ICP-OES kontrolują chlor, krzem, fosfor oraz pierwiastki zużyciowe i dodatki w ropie i olejach.
Metale, stopy i recykling złomu
Identyfikacja gatunku stopu (PMI) i sortowanie złomu to codzienność hut, odlewni i punktów skupu. Ręczne analizatory XRF i LIBS rozpoznają materiał w sekundy w terenie, a laboratoryjne spektrometry iskrowe OES i WDX zapewniają pełną kontrolę składu, łącznie z analizą węgla i siarki.
Geologia, górnictwo i surowce
Poszukiwanie i kontrola jakości surowców mineralnych opiera się na szybkiej analizie pierwiastkowej. Terenowe analizatory XRF wspierają prace eksploracyjne, a laboratoryjne spektrometry WDX oraz ICP-OES i ICP-MS oznaczają zawartości od głównych składników po pierwiastki śladowe w rudach, koncentratach i materiałach budowlanych.
Środowisko, woda i żywność
Kontrola metali ciężkich w glebie, wodzie i żywności wymaga niskich granic wykrywalności. Techniki ICP-MS, ICP-OES i AAS oraz fluorescencja atomowa (AFS) oznaczają rtęć, arsen, ołów i kadm na poziomie śladowym, a analizatory środowiskowe i procesowe — w tym przenośne testery wody i analizatory VOC — wspierają monitoring terenowy i procesowy.
Baterie i nowa energia
Rozwój elektromobilności i unijne rozporządzenie bateryjne stawiają nowe wymagania kontroli surowców i materiałów aktywnych. Spektrometry ICP-OES i ICP-MS oraz XRF oznaczają lit, nikiel, kobalt, mangan i zanieczyszczenia metaliczne w prekursorach, katodach i elektrolitach, wspierając jakość i bezpieczeństwo ogniw.