EDX 4500H

Spektrometr EDXRF Skyray EDX 4500H

Stacjonarny spektrometr EDXRF z detektorem FAST-SDD i inteligentnym układem próżniowym — szybka, nieniszcząca analiza do sterowania procesem wytopu, analizy stopów i pełnej analizy pierwiastkowej.

EDX 4500H to stacjonarny spektrometr XRF wykorzystujący fluorescencję rentgenowską do szybkiej, dokładnej i nieniszczącej analizy składu pierwiastkowego. Inteligentny układ próżniowy skutecznie wzbudza pierwiastki lekkie (Si, P, S, Al, Mg), a technika XRF pozwala precyzyjnie oznaczać pierwiastki o wysokiej zawartości (Cr, Ni, Mo). Krótki czas pomiaru sprawdza się w sterowaniu procesem wytopu, znacząco zwiększając wydajność kontroli.

Zastosowania

  • Sterowanie procesem wytopu i metalurgia
  • Analiza składu stopów
  • Pełna analiza pierwiastkowa
  • Wykrywanie pierwiastków szkodliwych (RoHS, halogeny)

O co zapytać

Standardowa konfiguracja obejmuje lampę z ultracienkim oknem, detektor FAST-SDD, system wzmocnienia toru optycznego, automatyczne przełączanie kolimatorów i filtrów, automatyczną stabilizację widma oraz pompę próżniową. Skontaktuj się z nami, aby dobrać konfigurację do procesu produkcyjnego.

Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.

Karta katalogowa (PDF) — w przygotowaniu

Zapytaj o ten produkt

Szukasz odpowiedniego produktu?

Napisz do nas — pomożemy dobrać rozwiązanie.

Skontaktuj się