EDX-T30
Górnonaświetlany analizator XRF do pomiaru grubości powłok — z wbudowanym wielokolimatorem, automatyczną zmianą filtrów, dwiema kamerami i automatycznym ruchem 3D w osiach X/Y/Z.
- Górnonaświetlana konstrukcja do pomiaru grubości powłok
- Wbudowany wielokolimator i automatyczna zmiana filtrów
- Dwie kamery — detale oraz szerokie pole widzenia HD
- Automatyczny ruch 3D w osiach X/Y/Z
- Pomiar powierzchni płaskich, wypukłych, narożników i łuków
- Ponad 30 lat doświadczeń w pomiarach grubości metodą XRF
EDX-T30 to nowy, górnonaświetlany analizator rentgenowski do pomiaru grubości powłok, opracowany w oparciu o ponad trzydziestoletnie doświadczenie Skyray w technice pomiaru grubości metodą XRF. Aparat wyposażono w zintegrowany wielokolimator, automatyczne przełączanie filtrów oraz dwie kamery, które pokazują zarówno szczegóły mierzonego miejsca, jak i wysokorozdzielczy, szerokokątny obraz pola pomiaru. Automatyczny, trójwymiarowy ruch w osiach X/Y/Z umożliwia pomiar powierzchni płaskich, wypukłych, narożników i łuków.
Zastosowania
- Pomiar grubości powłok galwanicznych i warstw funkcjonalnych
- Kontrola jakości w galwanotechnice i elektronice
- Próbki o złożonych kształtach
- Laboratoria kontroli i przyjęcia materiału
O co zapytać
Wielokolimator i automatyczna zmiana filtrów pozwalają dobrać warunki pomiaru do różnych powłok, a dwie kamery i ruch 3D ułatwiają precyzyjne pozycjonowanie na złożonych detalach. Skontaktuj się z nami, aby dobrać konfigurację do Twoich powłok i kształtów.
Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.
Karta katalogowa (PDF) — w przygotowaniu