EDX 3000
Stacjonarny spektrometr XRF (EDXRF) z detektorem Si-PIN do oznaczania metali szlachetnych — precyzyjna analiza zawartości złota, srebra, platyny, palladu, miedzi, cynku i niklu w biżuterii.
- Detektor Si-PIN — analiza Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni w wyrobach jubilerskich
- Półprzewodnikowe chłodzenie elektryczne — bez ciekłego azotu
- Wbudowana kamera HD do podglądu próbki
- Cyfrowy procesor impulsów — szybkie i dokładne przetwarzanie danych
- Pojedyncza komora, ręczna pokrywa — bezpieczna i wygodna obsługa
- Potrójny tryb zabezpieczeń przed promieniowaniem
EDX 3000 to stacjonarny spektrometr XRF z detektorem Si-PIN, przeznaczony do oznaczania metali szlachetnych. Bezbłędnie analizuje zawartość złota, srebra, platyny, palladu, miedzi, cynku i niklu w biżuterii ze złota, platyny i złota próby K, spełniając wymagania normy GB/T 18043-2013 w zakresie rozdzielczości. Półprzewodnikowy system chłodzenia eliminuje konieczność stosowania ciekłego azotu, a wbudowana kamera HD pozwala obserwować próbkę w trakcie pomiaru.
Zastosowania
- Centra kontroli jakości i laboratoria badawcze
- Sklepy jubilerskie i zakłady przetwórstwa biżuterii
- Lombardy oraz punkty skupu metali szlachetnych
- Rafinerie i odzysk metali szlachetnych
O co zapytać
Konfiguracja obejmuje detektor Si-PIN, wydajne źródło wzbudzenia oraz przyjazne oprogramowanie z niezależnymi modelami korekcji efektu matrycy i wielozmiennową regresją nieliniową. Skontaktuj się z nami, aby dobrać aparat do oznaczanego zakresu prób i metali.
Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.