EDX 2000A
Automatyczny mikroobszarowy miernik grubości powłok XRF z detektorem FAST-SDD — bezkontaktowy pomiar powłok na płaskich i złożonych kształtach, dla półprzewodników, układów scalonych i PCB.
- Detektor FAST-SDD o rozdzielczości do 129 eV — analiza wielowarstwowych powłok
- Automatyczny ruch w osiach X, Y, Z i podwójne pozycjonowanie laserowe
- Konstrukcja górnoogniskowa — pomiar drobnych próbek o nietypowych kształtach
- Kamera o zmiennej ogniskowej z systemem korekcji odległości
- Programowalny stolik przesuwny — wielopunktowy pomiar gęstych próbek
- Zastosowania: galwanizacja, elektronika, motoryzacja, materiały magnetyczne
EDX 2000A to energodyspersyjny spektrometr XRF w wersji automatycznego, mikroobszarowego miernika grubości powłok. Dzięki automatycznemu ruchowi w trzech osiach (X, Y, Z), podwójnemu pozycjonowaniu laserowemu i systemowi ochrony szybko i precyzyjnie ustawia ostrość na próbkach o prostych i złożonych kształtach — płaskich, wklęsło-wypukłych, narożnikach czy powierzchniach łukowych. Odpowiada na potrzeby bezkontaktowego pomiaru grubości powłok w przemyśle półprzewodnikowym, układów scalonych i płytek PCB.
Zastosowania
- Galwanizacja i powłoki z metali szlachetnych
- Elektronika, telekomunikacja, lotnictwo i nowa energetyka
- Armatura, sprzęt AGD i urządzenia elektryczne
- Motoryzacja, materiały magnetyczne, uczelnie i instytuty badawcze
O co zapytać
Konstrukcja górnoogniskowa zwiększa wydajność zbierania sygnału ponad dwukrotnie względem klasycznych układów optycznych i pozwala mierzyć drobne, nietypowe próbki — stopnie, głębokie rowki i otwory nieprzelotowe. Programowalny stolik umożliwia wielopunktowy pomiar gęsto rozmieszczonych elementów. Skontaktuj się z nami, aby dobrać konfigurację do mierzonych powłok.
Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.