EDXThick800
Górnonaświetlany, wielofunkcyjny analizator XRF do automatycznego pomiaru grubości powłok w mikroobszarach — z detekcją pierwiastków szkodliwych i analizą lekkich pierwiastków.
- Automatyczny pomiar grubości powłok w mikroobszarach
- Wielofunkcyjność — także detekcja pierwiastków szkodliwych
- Analiza składu lekkich pierwiastków
- Trójwymiarowy system ruchu w osiach X/Y/Z
- Podwójne pozycjonowanie laserowe z systemem ochrony
- Programowanie wielopunktowe do kontroli jakości i przyjęcia materiału
EDXThick800 to nowy, górnonaświetlany, wielofunkcyjny analizator rentgenowski do automatycznego pomiaru grubości powłok w mikroobszarach. Realizuje pomiary grubości na małych i złożonych kształtem próbkach, a jednocześnie umożliwia detekcję pierwiastków szkodliwych oraz analizę składu lekkich pierwiastków. Aparat wyposażono w zautomatyzowany, trójwymiarowy system ruchu w osiach X/Y/Z, podwójne pozycjonowanie laserowe z systemem ochrony oraz programowanie wielopunktowe — dzięki czemu znajduje szerokie zastosowanie w kontroli jakości i kontroli przyjęcia materiału.
Zastosowania
- Pomiar grubości powłok w mikroobszarach
- Detekcja pierwiastków szkodliwych (RoHS) i analiza lekkich pierwiastków
- Kontrola jakości i przyjęcia materiału
- Elektronika i galwanotechnika
O co zapytać
Połączenie pomiaru grubości, detekcji pierwiastków szkodliwych i analizy lekkich pierwiastków w jednym aparacie upraszcza kontrolę, a programowanie wielopunktowe przyspiesza serie pomiarowe. Skontaktuj się z nami, aby dobrać konfigurację do Twoich detali.
Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.
Karta katalogowa (PDF) — w przygotowaniu