EDX 1800B
Biurkowy energodyspersyjny spektrometr XRF w konstrukcji down-looking z detektorem Si-PIN — niezawodny do analiz RoHS, stopów, powłok i metali szlachetnych.
- Konstrukcja down-looking — pomiar próbek o różnych kształtach
- Detektor Si-PIN oraz lampa rentgenowska nowej generacji o mocy do 50 W
- Elektryczna zmiana kolimatorów i filtrów dla różnych trybów pomiaru
- Ruchomy stolik do precyzyjnego pozycjonowania punktu pomiarowego
- Zastosowania: RoHS, stopy, grubość powłok, metale szlachetne
EDX 1800B to biurkowy energodyspersyjny spektrometr XRF zaprojektowany na bazie szeroko stosowanej serii EDX 1800, z naciskiem na niezawodność i podwyższony poziom bezpieczeństwa. Zastosowanie nowej generacji zasilacza wysokiego napięcia i lampy rentgenowskiej zwiększa stabilność pracy, a wysoka moc lampy podnosi wydajność pomiarów.
Zastosowania
- Analizy RoHS
- Geologia oraz skład stopów (miedź, stale nierdzewne)
- Pomiar grubości powłok galwanicznych oraz oznaczanie składu kąpieli
- Metale szlachetne i wyroby jubilerskie
O co zapytać
Standardowa konfiguracja obejmuje ruchomy stolik, detektor Si-PIN, lampę rentgenowską dużej mocy oraz zasilanie wysokiego i niskiego napięcia. Konstrukcja down-looking i elektryczna zmiana kolimatorów oraz filtrów pozwalają dopasować pomiar do kształtu i rodzaju próbki. Skontaktuj się z nami, aby dobrać konfigurację do Twojej aplikacji.
Pełna specyfikacja techniczna i konfiguracja zostaną udostępnione w karcie katalogowej PDF.