Spektrometr jubilerski EDX880 to specjalistyczny tester metali szlachetnych z możliwością pomiarów wewnętrznych ścianek elementów biżuterii i innych nieregularnych kształtów. Oferuje wiele możliwości ustawienia materiału badanego: uchwyty, podstawki, masa plastyczna. Ten analizator XRF umożliwia szybką i nieniszczącą analizę stężeń metali szlachetnych. Pomiar karatowości typowych stopów złotniczych trwa ok. 30-120s. Możliwe jest szybkie sprawdzenie czy próba złotnicza odpowiada zawartości złota. Celownik laserowy umożliwia precyzyjny wybór punktu pomiaru a wbudowana kamera umożliwia podgląd i wykonanie zdjęcia próbki.
Zastosowania spektrometr jubilerskiego EDX880 (XRF)
Spektrometr EDX880 stosowany jest do analiz metali szlachetnych, jak również do badań grubości powłok i analiz RoHS.
Polecany dla firm zajmujących się sprzedażą i skup biżuterii.
Polecany dla firm zajmujących się sprzedażą i skup biżuterii.
Charakterystyka spektrometru jubilerskiego EDX880
Lampa X-ray o dużej mocy
Licznik proporcjonalny z dużym oknem; dostępna również wersja z detektorem Si-PIN
Elegancki kształt i wykonanie
Duża komora pomiarowa
Liczne możliwości ustawienia próby (uchwyt do biżuterii, podstawka, masa plastyczna) umożliwiają pomiary ścianek wewnętrznych i analizy prób o nieregularnych kształtach
Ręcznie podnoszona platforma ułatwia testy prób o różnej grubości.
Mały kolimator umożliwia testy w skali mikro.
Celownik laserowy CCD precyzyjnie lokalizuje punkt pomiarowy. Laser automatycznie wyłącza się w momencie pomiaru, dzięki czemu zdjęcia są wyraźniejsze.
Doskonała ochrona przeciwradiacyjna gwarantuje bezpieczeństwo użytkowników.
Przezroczysta pokrywa umożliwia obserwację próby w czasie pomiaru.
Licznik proporcjonalny z dużym oknem; dostępna również wersja z detektorem Si-PIN
Elegancki kształt i wykonanie
Duża komora pomiarowa
Liczne możliwości ustawienia próby (uchwyt do biżuterii, podstawka, masa plastyczna) umożliwiają pomiary ścianek wewnętrznych i analizy prób o nieregularnych kształtach
Ręcznie podnoszona platforma ułatwia testy prób o różnej grubości.
Mały kolimator umożliwia testy w skali mikro.
Celownik laserowy CCD precyzyjnie lokalizuje punkt pomiarowy. Laser automatycznie wyłącza się w momencie pomiaru, dzięki czemu zdjęcia są wyraźniejsze.
Doskonała ochrona przeciwradiacyjna gwarantuje bezpieczeństwo użytkowników.
Przezroczysta pokrywa umożliwia obserwację próby w czasie pomiaru.
Specyfikacja jubilerskiego spektrometru XRF EDX880 |
|
Model XRF |
EDX880, spektrometr XRF do analiz metali szlachetnych (złoto, srebro, platyna) i pomiarów grubości powłok. |
| Detektor | Licznik proporcjonalny lub detektor Si-PIN |
| Źródło wzbudzenia | Lampa x-ray 50W |
| Prąd lampy | 50-1000 µA |
| Napięcie lampy | 5-50 kV |
| Czas analizy | 60-100 s |
| Mierzone pierwiastki | Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itp. |
| Powtarzalność pomiaru | 0,05% ~0,1% (zawartość głównego skłdnika > 96%) 0,01 µm ~0,05 µm (dla analizy powłok) |
| Pozycjonowanie próby | Celownik laserowy, kamera CCD |
| Zasilanie | 220 VAC +/- 5V (zalecana stabilizacja napięcia zasilania) |
| Kolimator | kolimator 0,1 mm do testów w skali mikro |
| Temperatura robocza | +5 °C do + 30 °C |
| Wilgotność robocza | nie mniej niż 70% |
| Konfiguracja standardowa | Komora pomiarowa, kamer CCD o wysokiej rozdzielczości, platforma pomiarowa ręcznie regulowana, obwód wzmacniający, lampa x-ray 50W, obwód detekcyjny o zwiększonej czułości, uchwyt uniwersalny, masa plastyczna, kolimator. |
| Specyfikacja może ulec zmianie bez uprzedzenia. | |
