Spektrometr XRF EDX6000B to nowe rozwiązanie firmy Skyray przeznaczone do szybkich i dokładnych analiz w przemyśle cementowym i mineralnym. Podajnik na 10-12 prób umożliwia szybkie i wygodne testy wielu prób jednocześnie. Z powodzeniem sprawdza się również w analizach RoHS i badaniach powłok metalicznych.

Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN w technologii UHRD zamiast detektora z chłodzeniem LN2
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolnośc obliczeniową do 25 razy
Prózniowa komora pomiarowa, zapewniająca zwiększoną dokładność dla niskich poziomów pierwiastków lekkich.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Niezależne opcjonalne modele analityczne
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Procedury nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Inteligentne oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem

Specyfikacja techniczna
Model	EDX 6000B, profesjonalny spektrometr EDXRF do pełnych analiz pierwiastkowych
Detektor	Si-PIN chłodzony elektrcznie, technologia UHRD
Źródło wzbudzenia	Lampa rentgenowska
Prąd lampy	50-1000 µA
Napięcie lampy	5-50 kV
Czas analizy	60-200 s
Mierzone pierwiastki	Od Na (sód) do U (uran), optymalizacja pomiarów dla pierwiastków lekkich
Zakres analizy	1 ppm - 99,99%, dla Cd/Pb/Cr/Hg/Br limit detekcji do 1 ppm
Powtarzalność pomiaru	0,05% (powyżej  96%)
Analiza równoczesna	24 pierwiastki
Formy próbek	ciała stałe, proszki, ciecze
Pomiary powłok	11 warstw o grubości do 0,005 µm
Pozycjonowanie próby	Kamera CCD o wysokiej rozdzielczości 1,4 mln pix.
Kolimatory	Automatyczne przełaczanie filtrów i kolmatorów dla różnych prób.
Zasilanie	110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane)
Temperatura robocza	+15 °C do + 30 °C
Wilgotność robocza	≤ 70%
Konfiguracja standardowa	Lampa rentgenowska z oknem end-window, kamera CCD o wysokiej rozdzielczości, detektor SI-PIN UHRD, system optymalizacji ścieżki świetlnej, wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE), automatyczny przełącznik filtrów i kolimatorów, podajnik na 10-12 próbek, oprogramowanie analityczne
Specyfikacja może ulec zmianie bez uprzedzenia.