Spektrometr XRF EDX6000B to nowe rozwiązanie firmy Skyray przeznaczone do szybkich i dokładnych analiz w przemyśle cementowym i mineralnym. Podajnik na 10-12 prób umożliwia szybkie i wygodne testy wielu prób jednocześnie. Z powodzeniem sprawdza się również w analizach RoHS i badaniach powłok metalicznych.
Zastosowania spektrometru XRF EDX6000B
- Przemysł cementowy
- Produkcja i recykling stali i metali nieżelaznych
- Analizy kruszyw
- Analizy zgodne z RoHS/WEEE
Charakterystyka spektrometru XRF EDX6000B
Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN w technologii UHRD zamiast detektora z chłodzeniem LN2
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolnośc obliczeniową do 25 razy
Prózniowa komora pomiarowa, zapewniająca zwiększoną dokładność dla niskich poziomów pierwiastków lekkich.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Niezależne opcjonalne modele analityczne
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Procedury nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Inteligentne oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolnośc obliczeniową do 25 razy
Prózniowa komora pomiarowa, zapewniająca zwiększoną dokładność dla niskich poziomów pierwiastków lekkich.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Niezależne opcjonalne modele analityczne
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Procedury nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Inteligentne oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem
| Specyfikacja techniczna | |
|
Model |
EDX 6000B, profesjonalny spektrometr EDXRF do pełnych analiz pierwiastkowych |
|
Detektor |
Si-PIN chłodzony elektrcznie, technologia UHRD |
|
Źródło wzbudzenia |
Lampa rentgenowska |
| Prąd lampy | 50-1000 µA |
|
Napięcie lampy |
5-50 kV |
| Czas analizy |
60-200 s |
| Mierzone pierwiastki |
Od Na (sód) do U (uran), optymalizacja pomiarów dla pierwiastków lekkich |
| Zakres analizy | 1 ppm - 99,99%, dla Cd/Pb/Cr/Hg/Br limit detekcji do 1 ppm |
| Powtarzalność pomiaru |
0,05% (powyżej 96%) |
| Analiza równoczesna | 24 pierwiastki |
| Formy próbek | ciała stałe, proszki, ciecze |
| Pomiary powłok | 11 warstw o grubości do 0,005 µm |
|
Pozycjonowanie próby |
Kamera CCD o wysokiej rozdzielczości 1,4 mln pix. |
| Kolimatory | Automatyczne przełaczanie filtrów i kolmatorów dla różnych prób. |
|
Zasilanie |
110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane) |
| Temperatura robocza | +15 °C do + 30 °C |
| Wilgotność robocza | ≤ 70% |
| Konfiguracja standardowa | Lampa rentgenowska z oknem end-window, kamera CCD o wysokiej rozdzielczości, detektor SI-PIN UHRD, system optymalizacji ścieżki świetlnej, wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE), automatyczny przełącznik filtrów i kolimatorów, podajnik na 10-12 próbek, oprogramowanie analityczne |
|
Specyfikacja może ulec zmianie bez uprzedzenia. |
|
