Spektrometr EDX3000 PLUS to najbardziej zaawansowany analizator złota XRF firmy SkyRay przeznaczony specjalnie do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie analityczne pozwalające na szybkie i wygodne analizy pierwiastkowe. Dzięki nowoczesnemu detektorowi SDD o ulepszonej rozdzielczości możliwy jest rozdział pierwiastków występujących w typowych stopach oraz w stopach i innych próbkach o nieznanym składzie, np. białe złoto (Au+Cu+Zn+Ni), stopy Ag+Sn, stopy Pt+Au, Au+W, zanieczyszczenia w stopach metali szlachetnych, katalizatory i inne. Znakomicie sprawdza się przy rafinacji i recyklingu. Spektrometry tego typu polecane są przede wszystkim do pomiarów stopów jubilerskich w skupach złota, lombardach, kantorach, przy produkcji biżuterii oraz rafinacji złota.
Zastosowania spektrometru EDX3000 Plus
- Analizy metali szlachetnych w próbach jubilerskich; również badania grubości powłok
- Sklepy, hurtownie jubilerskie, produkcja biżuterii
- Rafinacja metali szlachetnych
Charakterystyka spektrometru EDX3000 Plus
Lampa rentgenowska o mocy 50 W
Detektor SDD z oknem berylowym 25mm2 o ulepszonej rozdzielczości widmowej zapewnia lepszy rozdział widm pierwiastków w porównaniu z klasycznym detektorem Si-PIN. Wartość zliczeń sięga 80 000, co jest wartością o 5-10 razy wyższą niż w detektorze Si-PIN.
Opatentowany przez SkyRay wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa stabilność i dokładność pomiaru.
Wbudowana kamera CMOS o wysokiej rozdzielczości umożliwia dokładny wybór punktu pomiarowego.
Bezpieczna (potrójny system zabezpieczeń) i łatwo zamykana pomiarowa bez konieczności wytwarzania próżni.
Elegancja obudowa wykonana ze stali; nie zajmuje dużo miejsca na biurku.
Oprogramowanie w języku polskim z przyjaznym użytkownikowi interfejsem.
Specyfikacja |
|
Model |
EDX 3000 PLUS, spektrometr EDXRF do analiz metali i powłok jubilerskich |
Detektor |
SDD chłodzony elektrycznie |
Źródło wzbudzenia |
Lampa rentgenowska o mocy 50W |
Natężenie na lampie |
50-1000 µA |
Napięcie na lampie |
5-50 kV |
Czas analizy |
30-200 s |
Mierzone pierwiastki |
Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itd. od S do U |
Zakres analizy |
ppm - 99,99% |
Dokładność pomiaru |
0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%) |
Analiza równoczesna |
24 pierwiastki |
Formy próbek |
ciała stałe, proszki, ciecze |
Pozycjonowanie próby |
Kamera CMOS HD |
Zasilanie |
220V AC |
Rozdzielczość energii |
139 +/- 5 eV |
Temperatura pracy |
+15 °C do + 30 °C |
Wilgotność pracy |
35% - 70% |
Wymiary komory pomiarowej |
439mm×300mm×50mm |
Waga |
45 kg |
Konfiguracja standardowa |
Komora pomiarowa, kamera CMOS, detektor SDD ze wzmacniaczem, lampa rentgenowska 50W, wzmacniacz SNE, komputer z oprogramowaniem analitycznym. |
Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego uprzedzenia. |