Nasz nowy spektrometr EDX3000D to efekt tych dążeń i zapewnia wysoką sprawność pomiarów i dokładność analiz dzięki opatentowanemu wzmacniaczowi sygnału. Poprawa dokładności analiz to stałe dążenie firmy Skyray Instruments.
Zastosowania spektrometru XRF EDX3000D
- Wykrywanie i analiza niebezpiecznych pierwiastków w urządzeniach elektrycznych i elektronicznych, przemyśle galwanicznym, plastiku, szkle, ceramice, odpadach itp.
- Analizy zgodności produktów z dyrektywami RoHS/WEEE
Charakterystyka spektrometru XRF EDX3000D
Chłodzony elektrycznie detektor SDD lub Si-PIN zamiast detektora z chłodzeniem LN2
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Potrójny system zabezpieczeń
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Procedura nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Automatyczne otwieranie i zamykanie komory pomiarowej
Pozycjonowanie platformy pomiarowej z oprogramowania za pomocą jednego kliknięcia myszy; dokładność ustalania punktu pomiarowego 0,01 mm
Specjalnie opracowane oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem.
Wbudowana kamera o wysokiej rozdzielczości
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa stabilność i dokładność pomiaru.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Potrójny system zabezpieczeń
Niezależny model korekcji efektu matrycy
Procedura nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Automatyczne otwieranie i zamykanie komory pomiarowej
Pozycjonowanie platformy pomiarowej z oprogramowania za pomocą jednego kliknięcia myszy; dokładność ustalania punktu pomiarowego 0,01 mm
Specjalnie opracowane oprogramowanie analityczne w pełni kompatybilne z urządzeniem.
Wbudowana kamera o wysokiej rozdzielczości
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa stabilność i dokładność pomiaru.
Specyfikacja techniczna spektrometru XRF EDX3000D |
|
Model XRF |
Spektrometr XRF EDX 3000D, spektrometr EDXRF do analiz RoHS |
|
Detektor |
SDD lub SI-PIN chłodzony elektrycznie |
|
Źródło wzbudzenia |
lampa rentgenowska |
|
Napięcie lampy |
5-50 kV |
| Prąd lampy | 50-1000μA |
|
Rozdzielczość energii |
155±5eV |
| Mierzone pierwiastki |
od S (siarka) do U (uran); jednoczesny pomiar do 24 pierwiastków |
| Zakres analizy |
1 ppm - 99,9%; limit detekcji dla Cd/Pb/Cr/Hg/Br do 1ppm |
|
Czas analizy |
60-200 s. |
|
Zasilanie |
220 VAC +/- 5V (zalecana stabilizacja źródła zasilania) |
|
Wymiary komory |
duża komora pomiarowa 3-D; średnica 450mm × 90mm wys. |
| Waga | 110 kg |
| Konfiguracja standardowa | Ruchoma platforma pomiarowa, optymalizacja czułości dla metali, obwód wzmacniający, wzmacniacz sygnału względem zakłócen (SNE) |
|
Specyfikacja może ulec zmianie bez uprzedzenia. |
|
