Spektrometr XRF EDX1800B to efekt doświadczenia firmy Skyray w produkcji analizatorów RoHS i rozwinięcie sprawdzonej konstrukcji EDX1800. Unikalna konfiguracja EDX1800B, funkcjonalne oprogramowanie XRF z przyjaznym interfejsem sprawiają, że analizator jest doskonałym i wygodnym w pracy urządzeniem do profesjonalnych analiz RoHS/WEEE.

Zastosowania spektrometru XRF EDX1800B

  • Detekcja i analizy RoHS/WEEE
  • Wykrywanie i analiza zawartości złota, srebra, platyny i innych metali szlachetnych w biżuterii; doskonały dla producentów biżuterii, banków, instytutów badawczych
  • Analizy grubości powłok metalicznych, zawartość metali w powłokach i roztworach galwanicznych.
  • Pełna analiza pierwiastkowa XRF minerałów i innych typów próbek

Charakterystyka spektrometru XRF EDX1800B

Zestaw filtrów i kolimatorów dla różnych typów prób z automatycznym przełączaniem
Wykonywanie w pełni profesjonalnych analiz RoHS/WEEE o wysokiej dokładności 
Wbudowany wzmacniacz sygnały względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolność przetwarzanie sygnału do 25 razy
Inteligentne oprogramowanie analityczne RoHS w pełni kompatybilne z urządzeniem
Opcjonalne niezależne modele analiz i identyfikacji pierwiastków
Procedury nieliniowej regresji dla wielu zmiennych

Specyfikacja techniczna spektrometru XRF EDX1800B

Model XRF

EDX1800B, EDXRF analizator RoHS i metali szlachetnych

Detektor

SI-PIN chłodzony elektrycznie lub SDD

Źródło wzbudzenia

lampa rentgenowska o wysokiej mocy

Pierwiastki mierzone

S do U (od siarki do uranu)

Limit detekcji 1 ppm
Zakres pomiarowy

1 ppm - 99,9%

Powtarzalność

0,1%

Stabilność długoterminowa

0,1%

Zasilanie

220 VAC +/- 5V (zalecania stabiliacja źródła zasilania)

Temperatura otoczenia +5 °C do + 30 °C
Wilgotnośc otoczenia ≤ 70%
Konfiguracja standardowa Ruchoma platforma pomiarowa, wzmacniacz sygnału względem zakłóceń, obwód wzmacniający, zasilanie wysoko- i niskonapięciowe, lampa rentgenowska
   

Zastrzegamy możliwość zmian w specyfikacji bez uprzedzenia