- Szczegóły
- Kategoria: Ręczne XRF
Ręczny spektrometr XRF Explorer
Przenośny spektrometr XRF EXPLORER jest najnowocześniejszym spektrometrem wyprodukowanym przez Skyray Instruments. Ten ręczny spektrometr XRF wyposażony został w najnowszy wielokanałowy detektor SDD i posiada znakomite parametry pomiarowe. XRF EXPLORER posiada możliwość pomiaru pierwiastków chemicznych w stężeniach od kilku ppm do 100%. Możliwy jest także pomiar pierwiastków lekkich bez konieczności stosowania próżni lub helu. Spektrometr jest dostarczany przez nas z najnowszym oprogramowaniem XRF w języku polskim. Starannie wykonana i zweryfikowana przez nasz polski personel naukowy kalibracja spektrometru EXPLORER, pozwala na uzyskanie dokładnych wyników w każdej aplikacji użytkownika. Unikalna jest możliwość konfiguracji jednego spektrometru do kilku różnych zastosowań pomiarowych.
Zastosowania ręcznego spektrometru XRF EXPLORER
- Identyfikacja i pomiar stopów metali (stale, stopy metali kolorowych, aluminium, stopy specjalne, stopy lotnicze, Hastelloy, Monel, Inconel, stopy na bazie cyny, niklu, molibdenu, magnezu, wolframu, tytanu, itd.). Wąski czubek spektrometru umożliwia pomiar spoin (spawów).
- Pomiary grubości warstw galwanicznych w przemyśle metalowym.
- Analiza stopów jubilerskich, karatowość złota, zanieczyszczenia stopów złota, platyny, srebra. Przemysł jubilerski, handel metalami szlachetnymi.
- Pomiar stężeń metali ciężkich w glebie. Analizy gleby. Remediacja.
- Pomiary minerałów, rud, hałd, odpadów
- Zwartość metali w farbach, plastiku, elektronice, itp.
- Analizy XRF na zgodność z RoHS
- Zawartość cennych metali w katalizatorach
- Rafinacja i recykling metali
- Analizy XRF w sztuce i archeologii
- Badania naukowe. Spełnia kryteria BAT (ang. Best available technology – Najlepsze dostępne techniki)
- Szczegóły
- Kategoria: Ręczne XRF
Wygodny w obsłudze i niezawodny ręczny spektrometr XRF EDX Pocket IV Genius przeznaczony jest do wykonywania analiz zarówno w laboratorium jak i w terenie. Spektrometr EDX Pocket IV Genius charakteryzuje się niewielkimi rozmiarami, wagą i poręcznością. Używany może być jako analizator substancji niebezpiecznych, składu stopów, metali szlachetnych, gleby, minerałów oraz minerałów oraz elektroniki i elementów z tworzyw sztucznych pod kątem analiz RoHS.
Spektrometr ten może być również doskonałym narzędziem w takich dziedzinach jak określanie klasy rud, analizy metali na złomowiskach i w procesach recyklingu, badania archeologiczne itp.
Ręczny spektrometr XRF EDX Pocket IV Genius wyposażony jest w nowoczesny detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości spektralnej, kamerę HD, oprogramowanie analityczne w języku polskim łączące algorytmy krzywych wzorcowych i funkcje oprogramowania FP oraz w opcjonalnie płuczkę helową do wykonywania analiz ilościowych pierwiastków lekkich w stopach.
