Wygodny w obsłudze i niezawodny ręczny spektrometr XRF EDX Pocket IV Genius przeznaczony jest do wykonywania analiz zarówno w laboratorium jak i w terenie. Spektrometr EDX Pocket IV Genius charakteryzuje się niewielkimi rozmiarami, wagą i poręcznością. Używany może być jako analizator substancji niebezpiecznych, składu stopów, metali szlachetnych, gleby, minerałów oraz minerałów oraz elektroniki i elementów z tworzyw sztucznych pod kątem analiz RoHS.
Spektrometr ten może być również doskonałym narzędziem w takich dziedzinach jak określanie klasy rud, analizy metali na złomowiskach i w procesach recyklingu, badania archeologiczne itp.
Ręczny spektrometr XRF EDX Pocket IV Genius wyposażony jest w nowoczesny detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości spektralnej, kamerę HD, oprogramowanie analityczne w języku polskim łączące algorytmy krzywych wzorcowych i funkcje oprogramowania FP oraz w opcjonalnie płuczkę helową do wykonywania analiz ilościowych pierwiastków lekkich w stopach.
Zastosowania ręcznego spektrometru XRF Genius
- Wydobycie i poszukiwania surowców mineralnych
- Badania in-situ skał, gleby, osadów i rud
- Opracowywanie map zasobów mineralnych
- Analizy nieoczyszczonych rud, koncentratów rud i pozostałości procesów wypłukiwania
- Określanie klas rud w handlu
- Badania hydrologiczne, archeologiczne i inne analizy w terenie
Spektrometr EDX Pocket IV Genius może być wyposażony w jeden lub więcej z dostępnych modułów analitycznych:
- analizator metali ciężkich zgodnie z dyrektywą RoHS - moduł analityczny XRF Genius 3000
- analizator stopów metali i identyfikacji stali - moduł analityczny XRF Genius 5000
- analizator rud mineralnych - moduł analityczny XRF Genius 7000
- analizator metali ciężkich w glebach - moduł analityczny XRF Genius 9000
Każdy z wyżej wymienionych modułów analitycznych posiada funkcje optymalnie dostosowujące go do warunków pracy, szybkiej identyfikacji badanego materiału i analizy zakresu pierwiastków właściwego dla danej aplikacji.
Charakterystyka ręcznego spektrometru XRF EDX Pocket IV Genius
Spektrometr może być wykorzystywany do badania ciał stałych, stopów metali, rud mineralnych, gleby, proszków oraz zawiesin i roztworów.
Urządzenie zapewnia dokładność pomiarów porównywalną ze stacjonarnymi analizatorami laboratoryjnymi dzięki połączeniu mini lampy rentgenowskiej o niskiej energii, dużego okna berylowego nowoczesnego detektora SDD o niskim zużyciu energii i wysokiej energii wzbudzenia.
Obsługa spektrometru odbywa się za pośrednictwem monitora dotykowego o wysokiej rozdzielczości (640*480) łączącego się z analizatorem za pomocą transmisji SPI. Technologia multi-channel i szybkie złącze znacznie poprawiają zdolności obliczeniowe urządzenia.
Spektrometr jest pyłoodporny i może pracować w szerokim zakresie temperatur i wilgotności.
Profesjonalne oprogramowanie zaprojektowane specjalnie do testów pierwiastków w stopach charakteryzuje się wysoką czułością, krótkimi czasami pomiarów i prostota obsługi.
Niewątpliwą zaletą jest błyskawiczna identyfikacja typów stopów, analiza jakościowa i ilościowa wielu pierwiastków jednocześnie, różnorodne opcje testów, dowolne i nieograniczone możliwości dodawania trybów testowania i wbudowana korekcja intensywności niwelująca odchylenia spowodowane różnymi kształtami i gęstościami próbek.
Autonomia pracy na pakiecie akumulatorów to 8 godzin. Dołączony zasilacz do szerokiego zakresu zasilania oraz ładowarka samochodowa umożliwiają doładowanie urządzenia w dowolnych warunkach.
Dostępne modele
Zalety:
1. Zastosowanie detektora SDD znacznie poprawia rozdzielczość spektralną i dokładność odczytu zawartości pierwiastków.
2. Kamera HD umożliwia precyzyjny wybór punktu pomiarowego nawet o małych rozmiarach.
3. Nowe oprogramowanie posiada ulepszone algorytmy obliczeniowe i funkcje zwiększające precyzję analizy.
4. System płuczki helowej pozwala na poprawę dokładności pomiaru halogenków.
Genius 5000 XRF
Przenośny analizator wszelkiego rodzaju stopów: stali nisko- i wysokostopowej, stali nierdzewnej, stali narzędziowej, stali chromowej/molibdenowej, stopów kobaltu i niklu, tytanu, stopów miedzi, mosiądzów, brązów, stopów cynku, wolframu itp. Dzięki identyfikacji i analizie pierwiastków cięższych jest również w stanie przeprowadzić identyfikację stopów metali lekkich jak Mg i Al. Znajduje zastosowanie w identyfikacji materiałów wsadowych w przemyśle hutniczym, i odlewniczym w kontroli jakości procesu produkcyjnego, w analizie jakości i składu materiałów stosowanych w budowie okrętów, samolotów i innych produktów wymagających kontroli jakości. Jest również niezastąpiony w identyfikacji i sortowaniu złomu metalowego, co umożliwia jego szybką klasyfikacje i wycenę w praktycznie każdych warunkach i lokalizacji.
Zalety:
1. Błyskawiczna analiza nieniszcząca. Szybki 1-2 sekundowy test wystarcza do wstępnej identyfikacji materiału. Analiza o długości 10 sekund zapewnia wynik porównywalny z analizą laboratoryjną.
2. Profesjonalne oprogramowanie analityczne z wbudowaną szeroką listą typów stopów zgodna z wieloma standardami międzynarodowymi.
3. Wbudowane tryby analityczne do różnych zastosowań, m.in analiza ilościowa, jakościowa itp. metody kalibracyjne uwzględniają rozproszenia spowodowane kształtem i rozmiarami próby.
4. Elastyczne oprogramowanie z możliwością modyfikacji, rozbudowy i tworzenia nowych trybów analitycznych.
5. Funkcja dynamicznego dopasowywania - wyświetlany jest wynik analizy, numer próby i wynik identyfikacji stopu. Każdy parametr może być dopasowywany indywidualnie.
Genius 7000 XRF
Spektrometr w wersji przeznaczonej do analiz prób mineralnych in-situ i badań prób gleby. Znajduje zastosowanie w badaniach próbek skał, żwirów , rud, gleby, zawiesin i innych prób w formie stałej, ciekłej lub proszkowej, w analizach środowiskowych, badaniach instytutów związanych z rolnictwem i produkcją żywności, badaniach geologicznych, przemysle wydobywczym i innych przedsięwzięciach zwiazanych z zagospodarowaniem zasobów naturalnych.
Zalety:
1. Szybka klasyfikacja rodzajów badanego materiału. Automatyczna analiza ilościowa i jakościowa z możliwością modyfikacji krzywych kalibracyjnych.
2. Wbudowane algorytmy korekcji odchyleń spowodowanych nieregularnymi kształtami i nietypową strukturą próbek.
3. Funkcja GPS umożliwia precyzyjną lokalizację miejsca analizy w badaniach geologicznych. Raport pomiarowy zawiera wszelkie dane włącznie z długością i szerokością geograficzną, jak i wysokością n.p.m.
4. Szerokie możliwości pomiarowe - spektrometr z powodzeniem może być stosowany na wielu etapach przetwarzania rud i surowców mineralnych.
5. Wykonywanie szybkich pomiarów na dużych obszarach - przydatne w określaniu zasięgu występowania danych surowców lub wytyczaniu map geologicznych.
6. Pomiary pierwiastków lekkich jak Mg, Al, Si, P, S
7. Kamera HD umożliwia precyzyjną lokalizację punktu pomiarowego, szczególnie w przypadku prób o niejednorodnej strukturze.
8. System automatycznego przełączania filtrów i kolimatorów podzielony na 12 grup w celu optymalnego dostosowania konfiguracji sprzętu do specyfiki pomiaru.
Genius 9000 XRF
Spektrometr skonfigurowany specjalnie do analiz środowiskowych - szczególnie do pomiarów zanieczyszczenia gleby metalami takimi jak: m.in. rtęć, kadm, arsen, miedź, cynk, nikiel, kobalt, wanad. Ze względu na prostotę obsługi i niewielkie rozmiary jest idealnym rozwiązaniem do wykonywania szybkich pomiarów w warunkach terenowych.
Zalety:
1. Wykonywanie szybkich pomiarów na dużych obszarach - przydatny w wyznaczaniu map zasięgu zanieczyszczenia.
2. Pomiary w szerokim zakresie zawartości, co umożliwia skuteczną ocenę procesów oczyszczania lub remediacji gruntów.
3. System GPS ułatwia precyzyjne wyznaczanie miejsc wykonywanych pomiarów na mapie.
4. System obliczeniowy i układ wielokanałowy znacznie zwiększają stabilność odczytów, co jest szczególnie ważne w analizach niskich zawartości metali ciężkich.
5. Wysoka rozdzielczość widmowa zmniejsza interferencje pomiędzy arsenem, a ołowiem, oraz żelazem i niklem.
Specyfikacja techniczna spektrometr EDX Pocket IV Genius |
|
Model spektrometru |
EDX Pocket IV Genius, ręczny analizator EDXRF |
Detektor |
25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil |
Źródło wzbudzenia |
Lampa rentgenowska 40 kV / 100 uA typu end-window z anodą Ag |
Rozdzielczość |
139 eV |
Pierwiastki mierzone | Od Mg do U (pierwiastki lekkie z użyciem płuczki helowej) |
Czas analizy |
3-30 s |
Analiza jednoczesna |
do 30 pierwiastków |
Zakres pomiarowy | ppm - 99,99% |
Limit detekcji |
Do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy |
Analizowane materiały | ciała stałe, próbki płynne i proszkowe |
GPS, WiFi |
Moduł GPS i złącze WiFi |
Zabezpieczenia |
Opcje administracyjne chronione hasłem |
Filtry/ kolimatory |
6 fi ltrów do wyboru z oprogramowania |
Prezentacja danych i sterowanie urządzeniem |
Monitor dotykowy TFT LCD o rozdzielczości 640x480, z regulowanym ustawieniem kąta; |
Lokalizacja punktu pomiarowego | Kamera HD CMOS |
Możliwość tworzenia |
TAK |
Gromadzenie danych |
Standardowo 2 GB, możl iwość rozszerzenia do 32 GB |
Zasilanie z sieci |
TAK |
Zasilanie |
Akumulator 7800 mAh, do 8 godzin ciągłej pracy. |
Warunki pracy |
temperatura: -20 °C to + 50 °C |
Wymiary |
234 x 306 x 82 mm (LxHxW) |
Waga |
1.9 kg (1.6 kg bez akumulatora) |
Dodatkowe wyposażenie |
Płuczka helowa do anal iz pierwiastków lekkich |
Wodo i wstrząsoodporna |
TAK |
Specyfikacja może ulec zmianie bez wcześniejszego uprzedzenia. |