WDX400 to kompaktowy, wielokanałowy rentgenowski spektrometr fluorescencyjny z dyspersją fali (WDXRF). Analizator posiada 10 kanałów dyfrakcji światła i prowadzi niezależny pomiar 10 pierwiastków od Na do U zdefiniowanych przez użytkownika. Standardowa konfiguracja pierwiastkowa to: Na, Mg, Al, Si, S, Cl, K, Ca, Fe, P lub Ti (opcjonalnie). Analizator jest idealnym rozwiązaniem w dużych i średnich przedsiębiorstwach. W porównianiu ze spektrometrami EDXRF cechuje się dużo wyższą mocą lampy rentgenowskiej i dokładnością pomiarów, większą powtarzalnością pomiarów, wyższą wydajnością wzbudzenia i niższymi progami detekcji.
Zastosowania spektrometru WDXRF WDX400
- Analizy materiałów budowlanych (cement, szkło, ceramika, itd.)
- Analizy stali i metali nieżelaznych
- Analizy minerałów i badania geologiczne
- Badania w inżynierii chemicznej
- Analizy w przemyśle petrochemicznym i farmaceutycznym
- Kontrola jakości i badania zgodności towarów
Charakterystyka spektrometru WDXRF WDX400
Wysoka dokładność pomiarów uzyskana przy niskim zasilaniu i odpowiednio dobranej długości pomiarów; przedłużona żywotnośc podzespołów
Optymalizacja układu zasilania wysokonapięciowego
Obniżenie kosztów eksploatacyjnych
Adaptacja stałych kanałów pomiarowych likwiduje problem zużywania się goniometru
Szybka i nieniszcząca analiza prób w formie proszków i grudek/granulatów i tabletek
Wielokanałowy, cyfrowy MCA znacznie wziększa wydajność pomiarów, co nie tylko obniża koszty eksploatacji i konserwacji systemu, ale także zwiększa dokłądnośc i stabilnośc pomiarów.
Specyfikacja techniczna spektrometru WDXRF WDX400 |
|
Model |
WDX400 |
| Lampa x-ray | Lampa Varian 400 W z oknem Be typu end-window, anoda Rh (anoda Pd opcjonalna) |
| Mierzone pierwiastki | Niezależny pomiar 10 pierwiastków od Na do U. |
| Detektor | Detektor proporcjonalny przepływu gazu + uszczelniony detektor proporcjonalny; niezależny analizator wysokości impulsów - 10 ścieżek, 1024 kanałów. |
| System próżniowy | Niezależny układ pompujący łatwy w utrzymaniu. Najwyższy poziom podciśnienia to poniżej 5 Pa |
| System przepływu gazu | Stabilizator gęstości gazu o wysokiej dokładności, stabilizacja ciśnienia do +/- 0,003 kPa |
| MCA | Pomiar piku każdego pierwiastka w czasie rzeczywistym, co jest korzystne nie tylko dla kontroli pracy analizatora, ale również zwiększa dokładność i stabilność analizy. |
| Zasilanie | 1 KV AC, stabilizowane |
| Stabilność pomiarów | oη - 1 (na 24 godziny, zawartośc procentowa) ≤ 0,05% |
| Czas analizy pojedynczej próby | ≤ 3 - 5 minut włącznie z czasem wymiany próby i czasem wytworzenia próżni. |
|
Kontrola temperatury w komorze |
Wartość ustawiona +/- 0,1 °C |
| Konfiguracja standardowa | Zasilanie wysokonapięciowe 400W Lampa x-ray 400W z oknem berylowym typu end-window Przepływowy detektor proporcjonalny + uszczelniony detektor proporcjonalny Niezależny analizator wysokości impulsu; 10 ścieżek, 1024 kanały Niezależny układ wytwarzania próżni Stabilizator przepływu Wielokanałowy system detekcji MCA |
|
Zastrzegamy możliwość zmian w specyfikacji bez wczesniejszej informacji |
|
