Spektrometr EDX3200S wykorzystuje metodę XRF do szybkiej i nieniszczącej analizy produktów petrochemicznych pod kątem obecności siarki i innych pierwiastków. Pomiary są proste, dokładne i nie wymagają czynności związanych z przygotowaniem próby. W chwili obecnej staje się ważne określenie zawartości siarki w produktach petrochemicznych, szczególnie w benzynie, oleju napędowym  czy smarach. Nadmierna ilość siarki w paliwach reaguje z rozpuszczonym w nich powietrzem i obniża ich stabilność. Ponadto w procesach spalania przekształca się w SO2, które powoduje zanieczyszczenie atmosfery. Z tego względu ważne jest kontrolowanie i ograniczanie jej zawartości.

Zastosowania spektrometru EDX3200S

  • Przemysł petrochemiczny
  • Analizy ropy naftowej
  • Analizy pierwiastkowe w próbkach ciekłych

Nasz nowy spektrometr EDX3000D to efekt tych dążeń i zapewnia wysoką sprawność pomiarów i dokładność analiz dzięki opatentowanemu wzmacniaczowi sygnału. Poprawa dokładności analiz to stałe dążenie firmy Skyray Instruments.

Zastosowania spektrometru XRF EDX3000D

  • Wykrywanie i analiza niebezpiecznych pierwiastków w urządzeniach elektrycznych i elektronicznych, przemyśle galwanicznym, plastiku, szkle, ceramice, odpadach itp.
  • Analizy zgodności produktów z dyrektywami RoHS/WEEE

Spektrometr XRF EDX1800B to efekt doświadczenia firmy Skyray w produkcji analizatorów RoHS i rozwinięcie sprawdzonej konstrukcji EDX1800. Unikalna konfiguracja EDX1800B, funkcjonalne oprogramowanie XRF z przyjaznym interfejsem sprawiają, że analizator jest doskonałym i wygodnym w pracy urządzeniem do profesjonalnych analiz RoHS/WEEE.

Zastosowania spektrometru XRF EDX1800B

  • Detekcja i analizy RoHS/WEEE
  • Wykrywanie i analiza zawartości złota, srebra, platyny i innych metali szlachetnych w biżuterii; doskonały dla producentów biżuterii, banków, instytutów badawczych
  • Analizy grubości powłok metalicznych, zawartość metali w powłokach i roztworach galwanicznych.
  • Pełna analiza pierwiastkowa XRF minerałów i innych typów próbek

EDX600 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay Instruments w projektowaniu urządzeń XRF do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe XRF w przemyśle jubilerskim stają się proste i szybkie. Wynik podawany jest w procentach stężenia złota lub w karatach. Spektrometr EDX600 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu i grubości warstw stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Wykonany jest w trwałych materiałów i ma ciekawy i praktyczny wygląd.

Zastosowania spektrometru XRF EDX600

  • Określanie składu stopów jubilerskich, badanie metali: Au, Pt, Ag, itp.
  • Pomiary grubości powłok metalicznych i określanie ich składu
  • Badania w procesach technologicznych w przemyśle jubilerskim
  • Kontrole w bankach, sklepach jubilerskich, punktach skupu biżuterii itp.