Spektrometr XRF EDX3600L został zaprojektowany specjalnie do pomiarów zawartości Na2O, MgO, Al2O3, CaO, Fe2O3, K2O, MnO, SiO2, TiO2, As,  Cr, Cu, Co, Mn, Ni, Pb, Ti, V, Zn, Zr, Ba i innych pierwiastków w warstwach wewnętrznych i glazurze antycznej ceramiki i porcelany. Dodatkowo, pojemna komora pomiarowa spektrometru wykonana specjalnie z myślą o badaniach archeologicznych jest w stanie pomieścić nawet duże elementy o nietypowych kształtach i prowadzić analizy XRF bez ryzyka ich uszkodzenia.

Analizy starożytnej ceramiki i porcelany
Badania wyrobów z brązu i starożytnej biżuterii
Badania grubości powłok metalicznych

Analizator XRF jest skalibrowany przy pomocy standardów dostarczonych przez uznane instytucje -  China History Museum i Shanghai Silicate Research Institute. Poprzez odniesienie do bazy danych "China Ancient Pottery and Porcelain Database", jest w stanie zidentyfikować wiek i przybliżony obszar pochodzenia analizowanej próby.
Spektrometr XRF EDX3600L może określić skład nie tylko ceramiki, ale także wyrobów z brązu (Cu, Sn, Pb,Zn, itp. ) i stopów metali szlachetnych ( Au, Pt, Ag, Pb, Cu, Ni, Ru, Rh i Fe) Możliwe jest także prowadzenie pomiarów grubości powłok metalicznych.
Spektrometr EDX3600 wyposażony jest w chłodzony elektrycznie detektor UHRD lub SDD
Wbudowany wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolność przetwarzania sygnałów nawet do 25 razy. 
Automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów dla różnych typów prób.
System optymalizacji ścieżki pomiarowej.
Wbudowana kamera CCD o dużej rozdzielczości.
Inteligentne oprogramowanie do pełnych analiz pierwiastkowych w pełni kompatybilne z analizatorem.
Powierzchniowe źródło światła
Procedura nieliniowej regresji dla wielu zmiennych
Niezależne modele korekcji efektu matrycy
Potrójny system zabezpieczeń

Specyfikacja techniczna spektrometru XRF EDX3600
Model XRF	EDX3600L, profesjonalny spektrometr EDXRF do badań archeologicznych
Detektor	Si-PIN chłodzony elektrycznie, technologia UHRD lub SDD
Źródło wzbudzenia	Lampa rentgenowska
Prąd lampy	50-1000 µA
Napięcie lampy	5-50 kV
Czas analizy	60-200 s
Mierzone pierwiastki	Od Na (sód) do U (uran)
Zakres analizy	1 ppm - 99,99%
Powtarzalność pomiaru	0,05%
Analiza równoczesna	wielopierwiastkowa
Formy próbek	ciała stałe, proszki, ciecze
Pozycjonowanie próby	Kamera CCD o wysokiej rozdzielczości 1,4 mln pix.
Kolimatory	Automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów dla różnych prób.
Pomiary powłok	grubość powłok do 0.01µm
Zasilanie	110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane)
Zużycie energii	200W
Temperatura robocza	+15 °C do + 26°C
Wilgotność robocza	≤ 70%
Wymiary komory	duża komora próżniowa: 600 x 600 x 1000 mm
Waga	280 kg
Specyfikacja może ulec zmianie bez uprzedzenia.