Spektrometr XRF EDX3600B wykorzystuje technologię rentgenowską do wykonywania dokładnych i szybkich analiz pierwiastkowych prób mineralnych i metali. Lampa emitująca promieniowanie o niskiej energii zapewnia efektywne wzbudzenie pierwiastków lekkich jak Si, S, Na i Mg, i znacznie skraca czas analizy. Dzięki automatycznemu stabilizatorowi widma wyniki są dokładne i powtarzalne. Spektrometr EDX3600B zapewnia wysoką dokładność i automatyzację pomiarów XRF.
Zastosowania spektrometru XRF EDX3600B
- EDX3600B jest stosowany do pełnych analiz pierwiastkowych laboratoriach, przemyśle cementowym i mineralnym
- Pomiary grubości powłok galwanicznych i analiz RoHS/WEEE
- Analizy na zawartość metali szlachetnych
- Przemysł elektryczny i elektroniczny (RoHS/WEEE)
- Przemysł zabawkarski i ceramiczny
- Przemysł metalurgiczny i recykling metali
Charakterystyka spektrometru XRF EDX3600B
Analizator XRF EDX3600B prowadzi profesjonalne analizy pierwiastkowe cementu, stali, stopów metali nieżelaznych, minerałów, pomiary grubości powłok galwanicznych oraz analizy substancji niebezpiecznych zgodnie z RoHS/WEEE.
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolność obliczeniową do 25 razy.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Chłodzony elektrycznie detektor SSD lub Si-PIN w technologii UHRD zamiast detektora z chłodzeniem LN2 zapewniający wysoką liniowość i rozdzielczość energii, dobre właściwości widma i wysoki stosunek piku do tła
Specjalnie opracowane oprogramowanie analityczne XRF w języku polskim zapewnia pełną kontrolę nad analizatorem.
W spektrometrze XRF EDX3600B zastosowano także technikę rozdzielania widm (przydatną w analizach widm lekkich pierwiastków), oraz metodę regresji liniowej dla wielu parametrów uwzględniająca efekty wzajemnych zakłóceń pomiędzy pierwiastkami.
Wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE) zwiększa zdolność obliczeniową do 25 razy.
Zestaw kolimatorów i filtrów dla różnych próbek z automatycznym przełączaniem.
Chłodzony elektrycznie detektor SSD lub Si-PIN w technologii UHRD zamiast detektora z chłodzeniem LN2 zapewniający wysoką liniowość i rozdzielczość energii, dobre właściwości widma i wysoki stosunek piku do tła
Specjalnie opracowane oprogramowanie analityczne XRF w języku polskim zapewnia pełną kontrolę nad analizatorem.
W spektrometrze XRF EDX3600B zastosowano także technikę rozdzielania widm (przydatną w analizach widm lekkich pierwiastków), oraz metodę regresji liniowej dla wielu parametrów uwzględniająca efekty wzajemnych zakłóceń pomiędzy pierwiastkami.
| Specyfikacja techniczna spektrometru XRF EDX3600B | |
|
Model XRF |
EDX3600B, profesjonalny spektrometr EDXRF do pełnych analiz pierwiastkowych |
|
Detektor |
SD lub Si-PIN chłodzony termoelektrycznie, technologia UHRD |
|
Źródło wzbudzenia |
Lampa rentgenowska, W |
| Prąd lampy | 50-1000 µA |
|
Napięcie lampy |
5-50 kV |
| Czas analizy |
60-200 s |
| Mierzone pierwiastki |
Od Na (sód) do U (uran), optymalizacja pomiarów dla pierwiastków lekkich |
| Zakres analizy | 1 ppm - 99,99% |
| Powtarzalność pomiaru |
0,05% |
| Analiza równoczesna | 24 pierwiastki |
| Formy próbek | ciała stałe, proszki, ciecze |
| Pomiary powłok | 11 warstw o grubości do 0,005 µm |
|
Pozycjonowanie próby |
Kamera CCD o wysokiej rozdzielczości 1,4 mln pix. |
| Kolimatory | Automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów dla różnych prób. |
|
Zasilanie |
110/220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane) |
|
Rozdzielczość energii |
150 +/- 5 eV |
| Temperatura robocza | +15 °C to + 30 °C |
| Wilgotność robocza | 35% - 70% |
| Wymiary komory | 320 mm śr. x180 mm wys. |
| Waga | 75 kg |
| Konfiguracja standardowa | Próżniowa komora pomiarowa, kamera CCD o wysokiej rozdzielczości, detektor SDD lub SI-PIN UHRD, system optymalizacji ścieżki świetlnej, wzmacniacz sygnału względem zakłóceń (SNE), automatyczny przełącznik filtrów i kolimatorów, ruchoma platforma pomiarowa, oprogramowanie analityczne do pełnych analiz pierwiastkowych. |
|
Specyfikacja może ulec zmianie bez uprzedzenia. |
|
